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´ë±¸°æºÏ°úÇбâ¼ú¿ø (DGIST) À̿ºö ºÐ¼®ºÐ¾ß ¹Ú»çÈÄ ¿¬±¸¿ø(Æ÷½º´Ú)/¼®»çÈÄ ¿¬±¸¿ø ¸ðÁý
ÀÛ¼ºÀÚ
¹®´ë¿ø
ÀÛ¼ºÀÏ
2012-11-27
Á¶È¸
2032

Á¦¸ñ: ´ë±¸°æºÏ°úÇбâ¼ú¿ø (DGIST) À̿ºö ºÐ¼®ºÐ¾ß ¹Ú»çÈÄ ¿¬±¸¿ø(Æ÷½º´Ú)/¼®»çÈÄ ¿¬±¸¿ø ¸ðÁý

´ë±¸°æºÏ°úÇбâ¼ú¿ø (DGIST)¿¡¼­´Â ºñÇà½Ã°£ Áß¿¡³ÊÁö À̿»ê¶õ (TOF-MEIS) ³ª³ëºÐ¼® ±â¼úÀ» ¼¼°è ÃÖÃÊ·Î °³¹ßÇÏ¿© ³ª³ë¹Ú¸·, ³ª³ëÀÔÀÚ, ³ª³ë¹ÙÀÌ¿À¼ÒÀç, µî ´Ù¾çÇÑ ³ª³ë ¹× ¹ÙÀÌ¿À ºÐ¼®¿¡ Àû¿ëÇÏ´Â ¿¬±¸¸¦ ¼öÇàÇÏ°í ÀÖ½À´Ï´Ù. (¿¬±¸Ã¥ÀÓÀÚ: DGIST Fellow ¹®´ë¿ø). ÀÌ·¯ÇÑ ÃÖ÷´ÜÀÇ ³ª³ë¹ÙÀÌ¿À ¼ÒÀçÀÇ atomic structural & compositional nano tomography ºÐ¼® ¿¬±¸¿¡ Âü¿©ÇÏ¿© ÃÖ¿ì¼ö ¿¬±¸ ¼º°ú¸¦ ³»°íÀÚ ÇÏ´Â ¹Ú»çÈÄ ¿¬±¸¿ø(Æ÷½º´Ú) ȤÀº ¼®»çÈÄ ¿¬±¸¿øÀ» ã°í ÀÖ½À´Ï´Ù.

Àåºñ´Â ÀÌ¹Ì ±¸ÃàµÇ¾î ¿î¿ë ÁßÀ̸ç À̸¦ È°¿ëÇÑ ¹ÝµµÃ¼ ³ª³ë¹Ú¸·, ultrashallow junction profiling & activation process ¿¬±¸, ¾çÀÚÁ¡, ±Ý¼Ó³ª³ëÀÔÀÚ, ÀÚ¼º ¹Ú¸·ÀÇ ´Ü¿øÀÚÃþ ºÐÇØ´É Á¤·® Á¶¼ººÐ¼® ¹× ¿øÀÚ ±¸Á¶ ºÐ¼®, »À ¹× ¾çÀÚÁ¡ µî ³ª³ë¹°Áú Ãʱ⠼ºÀå°úÁ¤, µî Èï¹Ì·Î¿î ¿¬±¸µéÀÌ ÁøÇàµÇ°í ÀÖ¾î ¸¹Àº ¿ì¼öÇÑ ¿¬±¸ ¼º°ú¸¦ ±â´ëÇÒ ¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù.

 DGIST´Â ¿¬±¸¿ø ¼÷¼Ò¸¦ Á¦°øÇÒ ¼ö ÀÖÀ¸¸ç ¿ì¼ö ¿¬±¸ °æ·Â º¸À¯ÀÚÀÇ °æ¿ì º´·Â Ư·Ê·Îµµ Áö¿øµÉ ¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù. ¿¬ºÀÀº ¹Ú»çÈÄ ¿¬±¸¿ø 3300¸¸¿ø ÀÌ»ó, ¼®»çÈÄ ¿¬±¸¿ø 2000¸¸¿ø ÀÌ»óÀÌ¸ç ¿¬±¸ °æ·Â¿¡ µû¶ó »óÇâ Á¶Á¤ °¡´ÉÇÕ´Ï´Ù.

 

¿¬±¸ºÐ¾ß : Áß ¿¡³ÊÁö À̿»ê¶õ Àåºñ °³¹ß ¹× ÀÀ¿ë/³ª³ë ¹ÙÀÌ¿À ¼ÒÀç ºÐ¼® ¹× ¿øÀÚ±¸Á¶ ¹°¼º ¿¬±¸

¸ðÁý´ë»ó: Áø°ø, ÇöóÁ ¹× ¹Ú¸· °ü·Ã ¹°¸®, È­ÇÐ, ȤÀº Àç·á Àü°øÀÚ (¼®»ç, ¹Ú»ç Á¹¾÷ ¹× Á¹¾÷ ¿¹Á¤ÀÚ)

Á¦Ãâ¼­·ù: À̷¼­ ¹× ÀÚ±â¼Ò°³¼­

¸ðÁý±â°£: ¼ö½Ã ¸ðÁý

 ¿¬¶ôó: ¹®´ë¿ø (010-5432-5390; dwmoon@dgist.ac.kr)