±¸Àα¸Á÷

¾Ë¸²¸¶´ç ±¸Àα¸Á÷
[»ï¼ºÀüÀÚ Á¾ÇÕ±â¼ú¿ø] ºÐ¼®±â¼ú R&D ºÐ¾ß °æ·Â»ç¿ø ä¿ë°ø°í
ÀÛ¼ºÀÚ
Æú ÇÖ¼¼
ȨÆäÀÌÁö
http://www.sait.samsung.co.kr
ÀÛ¼ºÀÏ
2013-05-24
Á¶È¸
2843

âÀÇÀû ¿¬±¸·Î ¼¼»óÀ» ¹Ù²Ù´Â ¿¬±¸¼Ò,

»ï¼ºÀüÀÚ Á¾ÇÕ±â¼ú¿øÀº '¹«ÇÑŽ±¸'ÀÇ À̳äÀ» ½ÇÇöÇϸç

¹Ì·¡¸¦ ÁÖµµÇÒ ÃÖ÷´Ü ±â¼úÀÇ »ê½Ç·Î¼­ ¼³¸³µÈ »ï¼ºÀüÀÚÀÇ Áß¾Ó¿¬±¸¼ÒÀÔ´Ï´Ù.

ÀúÈñ¿Í ÇÔ²² ¹Ì·¡¸¦ ¿­¾î °¥ ¿©·¯ºÐÀÇ ¸¹Àº °ü½É°ú Áö¿øÀ» ±â´Ù¸³´Ï´Ù.

 

¡à ¸ðÁýºÐ¾ß : ºÐ¼®±â¼ú R&D

 

¡à ±Ù¹«Áö   : ¼ö¿ø

 

¡à ¸ðÁý±â°£ : 2013³â 5¿ù 28ÀÏ ~ 2013³â 6¿ù 10ÀÏ 17:00½Ã

 

¡à Áö¿øÀÚ°Ý

   °ü·ÃÀü°ø ¹Ú»çÇÐÀ§ÀÚ ¶Ç´Â ¼®»ç ÀÌÈÄ °æ·Â 4³â ÀÌ»óÀÚ
   (2013³â 8¿ù ¹Ú»çÇÐÀ§ Ãëµæ¿¹Á¤ÀÚ Æ÷ÇÔ)
   ¡Ø ±ºÇÊ ¶Ç´Â ¸éÁ¦ÀÚ·Î ÇØ¿Ü¿©Çà¿¡ °á°Ý»çÀ¯°¡ ¾ø´Â ÀÚ

 

¡à ¸ðÁýÀοø : O ¸í

 

¡à ¸ðÁýºÎ¹®  
 

Á÷  ¹«

Á÷ ¹« °³ ¿ä

TEMÀ» ÀÌ¿ëÇÑ À¯/¹«±â

Àç·á ¹× ¼ÒÀÚ ±¸Á¶ ºÐ¼®

- TEM ÀåºñÀÇ ¿î¿ë ¹× °úÁ¦ ºÐ¼®Áö¿ø

- À¯/¹«±â ¼ÒÀç¿Í ³ª³ë¼ÒÀÚÀÇ ¹Ì¼¼±¸Á¶ ¹× ¹Ì¼¼±¸Á¶/°áÁ¤±¸Á¶/¿øÀÚ±¸Á¶/È­Çб¸Á¶ ºÐ¼®

SEM ¹× EPMA¸¦ ÀÌ¿ëÇÑ

À¯/¹«±â Àç·á ¹× ¼ÒÀÚ

±¸Á¶ ºÐ¼® (SEM-EBSD/ EPMA-SXES)

- SEM-EBSD ¹× EPMA-SXES ÀåºñÀÇ ¿î¿ë ¹× °úÁ¦ ºÐ¼®Áö¿ø

- À¯/¹«±â ¼ÒÀç ¹× ³ª³ë¼ÒÀÚÀÇ ¹Ì¼¼±¸Á¶/°áÁ¤±¸Á¶/È­Çб¸Á¶ ºÐ¼®

Atom Probe Tomography¸¦

ÀÌ¿ëÇÑ Àç·á/¼ÒÀÚ ¼ººÐºÐ¼® (APM)

- Electrical/Optical¼ÒÀÚ ¹× Àç·áÀÇ 3Â÷¿ø element mapping ºÐ¼®

- FIB¸¦ ÀÌ¿ëÇÑ À¯/¹«±â ½ÃÆí Á¦ÀÛ ±â¼ú

- TEM ¹× SIMS °æÇèÀÚ ¿ì´ë

Defect/ charge transport ºÐ¼® (DLTS / Photoconductance decay)

- ¹°¸®/Àç·á ±â¹ÝÀÇ DLTSµî material ³»ÀÇ energy trap(defect) ºÐ¼®

 (semiconductor material, QD, LED, OLED, battery¿ë ½Ã·á¿¡ ´ëÇÑ

  Defect analysis)

À¯·¹«±â Ç¥¸é/°è¸é ºÐ¼®

(XPS/UPS, AES)

- ¹°¸®/È­ÇÐ ±â¹ÝÀÇ XPS/UPS, AES µî Ç¥¸éºÐ¼® ½ÅºÐ¼® ±â¼ú ¿¬±¸

- À¯/¹«±â Àç·á ¹× deviceÀÇ In-situ Ç¥¸éºÐ¼®

Solid state NMRÀ» ÀÌ¿ëÇÑ

À¯/¹«±â Àç·á ¹× Device °ü·Ã ¿¬±¸

- °íüNMR À» ÀÌ¿ëÇÑ ½ÅºÐ¼® ±â¼ú ¿¬±¸ ¹× UHF NMRÀåºñ ¿î¿ë

- Ultra High field NMR°æ·ÂÀÚ ¹× °íü NMR °ü·Ã ¹Ú»ç ÇÐÀ§ ¼ÒÁöÀÚ

- ÀüÀÚ Àç·á °ü·Ã °æ·Â (ex. OLED, metal oxide, or Battery

  material) ¿ì´ë

- Simulation ¸¦ ÀÌ¿ëÇÑ ¿¬±¸°¡ °¡´ÉÇÑ ÀÚ (ab Initio Molecular

  Dynamics, ab Initio Calculation of NMR Shifts µî)

HPLC¸¦ ÀÌ¿ëÇÑ Total Analysis

- High performance liquid chromatography (HPLC)À» ÀÌ¿ëÇÑ À¯±â

  ¼ÒÀç ¹°Áú ¿¬±¸ ¹× ¹°Áú º¯¼º ¸ÞÄ¿´ÏÁò ±Ô¸í.

- HPLCÀÇ ´Ù¾çÇÑ °ËÃâ±â »ç¿ë °æÇèÀÚ (RI, PDA, FD,

  Electrochemical detector, ELSD, Conductivity detector, Mass

  spectrometry)

- È­ÇÕ¹°ÀÇ º¯¼º ¿¬±¸ °æÇèÀÚ(OLED, Surfactants, Polymer, µî)

ICP¸¦ ÀÌ¿ëÇÑ À¯/¹«±â Àç·á

±Ø¹Ì·® ¼ººÐºÐ¼® (ICP-MS, ICP-AES)

- À¯±âÀç·á(polymer, °íºÐÀÚµî) Ã˸Š¶Ç´Â ±Ø¹Ì·® ÷°¡Á¦ ºÐ¼®

- Battery, ÀÚ¼º Àç·á ±¸¼º ¼ººÐºÐ¼® ¹× ¹Ì·® ÷°¡Á¦ ºÐ¼®

 

 

¡à Áö¿ø ¹æ¹ý
   

Áö¿ø¼­ ÀÛ¼º

- »ï¼ºÃ¤¿ëȨÆäÀÌÁö(www.samsungcareers.com)¿¡ ·Î±×ÀÎ

- [Á¾ÇÕ±â¼ú¿ø] ºÐ¼®±â¼ú R&D ºÐ¾ß °æ·Â»ç¿ø ä¿ë °ø°í ¼±Åà ÈÄ

  Áö¿ø¼­ ÀÛ¼º

  ¡Ø °èÁ¤ÀÌ ¾øÀ¸½Å ºÐµéÀº ¸ÕÀú ȸ¿ø°¡ÀÔÀ» ¿Ï·áÇϽñ⠹ٶø´Ï´Ù.

ÀÔ»çÁö¿ø¼­ µî·Ï

 - ¹Ýµå½Ã º» °ø°í¿¡ ÷ºÎµÈ ÀÔ»çÁö¿ø¼­ ´Ù¿î·Îµå ÈÄ ÀÛ¼º

 - Áö¿ø¼­ÀÇ ¡¼¼Ò°³¡½ È­¸é¿¡¼­ ÀÔ»çÁö¿ø¼­¸¦ µî·Ï

Áö¿ø¼­ Á¦Ãâ

- 2013³â 5¿ù 28ÀÏ(È­) ~ 2013³â 6¿ù 10ÀÏ(¿ù) 17:00±îÁö Á¦Ãâ¿Ï·á

  

¡à ÀüÇü ÀýÂ÷

   

Áö¿ø¼­ Á¢¼ö  ¢º  ¼­·ù ÀüÇü  ¢º  ¸éÁ¢ ÀüÇü  ¢º  Ã¤¿ë °Ç°­°ËÁø  ¢º  ÃÖÁ¾ÇÕ°Ý

 

¡à ±âŸ

   - ¼­·ùÀüÇü °á°ú´Â 2013.6.14(±Ý) 17:00 »ï¼ºÄ¿¸®¾î½º¸¦ ÅëÇØ ¹ßÇ¥ ¿¹Á¤ÀÔ´Ï´Ù.

   - ÀüÇü´Ü°èº° °á°ú´Â »ï¼ºÃ¤¿ë È¨ÆäÀÌÁö¿¡ ·Î±×ÀÎÇÏ¿© È®ÀÎÇÏ½Ç ¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù.

   - Áö¿ø¼­´Â »ï¼ºÃ¤¿ë È¨ÆäÀÌÁö¸¦ ÅëÇØ Á¢¼öÇϸç À̸ÞÀÏÀ» ÅëÇÑ °³º° Á¢¼ö´Â ¹ÞÁö ¾Ê½À´Ï´Ù.

   - Á¢¼öµÈ ¼­·ù´Â ÀÏü ¹ÝȯµÇÁö ¾ÊÀ¸¸ç ÇãÀ§»ç½ÇÀÌ ÀÖ´Â °æ¿ì ä¿ëÀÌ Ãë¼ÒµÉ ¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù.

   - ÀÔ»çÁö¿øÀÚ²²¼­´Â ÀÔ»çÁö¿ø ½ÃÁ¡ºÎÅÍ Ã¤¿ëÀüÇü Àüü °úÁ¤¿¡ °ÉÃÄ Àü·ÇöÁ÷ Á÷ÀåÀÇ

     ¿µ¾÷ºñ¹ÐÀ» Ä§ÇØÇÏ´Â ÀÏÀÌ ¾øµµ·Ï °¢º°È÷ À¯ÀÇÇϽñ⠹ٶø´Ï´Ù.

     ¡Ø »ï¼ºÃ¤¿ëȨÆäÀÌÁö: www.samsungcareers.com

 

¡à ¹®ÀÇó

    - »ï¼ºÀüÀÚ Á¾ÇÕ±â¼ú¿ø ÀλçÆÀ Æú ÇÖ¼¼ ´ë¸® (jobinfo@samsung.com)

      ¡Ø ¸ÞÀÏ ¹®ÀÇ ½Ã, ¸ÞÀÏÁ¦¸ñÀ» "[ºÐ¼® °øä¹®ÀÇ] È«±æµ¿" Çü½ÄÀ¸·Î ¹ß¼Û ¹Ù¶ø´Ï´Ù