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공지사항
- 작성자
- 관리자
- 작성일
- 2015-10-05
- 조회
- 4006
제11회 표면분석심포지엄이 10/6(화)-8(목)까지 변산 대명리조트에서 열립니다.
관심있는 분들의 많은 참여 바랍니다.
http://kossa.kriss.re.kr/
주요일정
6/1-8/3 초촉접수
6/1-8/31 사전등록
9/14-30 숙박예약
10월 6일 (화) - Surface Analysis Tutorial
13:30 ~ 14:30
김정원 (한국표준과학연구원)
표면분석 개론
14:30 ~ 15:30
전철호 (한국기초과학지원연구원)
ARPES 원리 및 응용
15:50 ~ 16:50
이연희 (한국과학기술연구연구원)
TOF-SIMS의 원리 및 응용
16:50 ~ 17:50
이봉호 (대구경북과학기술원)
APT의 원리 및 응용
17:50 ~ 18:00
표면분석 Q&A, 마무리
10월 7일 (수)
Session 1: Secondary Ion Mass Spectrometry
09:00-09:30
Hiroto Itoh (Konica Monolta)
Practical Surface Chemical Analysis of Organic Materials using TOF-SIMS
09:30-10:00
김지경 (삼성전자)
On pattern SIMS analysis techniques on semiconductor devices
10:00-10:20
정석원 (LG전자)
Application of TOF-SIMS for electronic material: 2D and 3D imaging techniques
Session 2: Electron Spectroscopy
10:40-11:10
(초청) Noriko Ishizu (Okinawa Institute of Science & Technology)
Depth-Profiling Working Group in Surface Analysis society of Japan
11:10-11:40
(초청) 황찬국 (포항가속기연구소)
Making graphene-based, layered heterostructures and their electronic structures
11:40-12:10
(초청) 박용섭 (경희대학교)
Energy level alignment in polymer organic solar cells at donor-acceptor planar junction formed by electrospray vacuum deposition
12:10-12:30
Risayo Inoue (ULVAC-PHI)
Fundamental Application of Laboratory Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy being under development
Session 3: Imaging Technology (APT 등)
13:30-14:00
(초청) 설재복 (포항공과대학교)
Atom probe tomography의 활용을 위한 조언: 분석조건, 데이터 처리 및 artifacts
14:00-14:30
(초청) 신채호 (한국표준과학연구원)
Fast, exact, and non-destructive diagnoses in nano-scale semiconductor device using conductive AFM
14:30-14:50
이지영 (한국과학기술연구원)
Charge and discharge characteristics of Li(NiCoMo)O2 cathode revealing by atom probe
Session 4: Novel Technology
15:10-15:40
(초청) 김재영 (대구경북과학기술원)
살아있는 세포와 조직을 분석하기 위한 대기압 질량분석 이미징 기술
15:40-16:10
(초청) 조상희 (한국표준과학연구원)
Probing the structural disorder of epitaxial graphene using scanning thermoelectric microscopy
16:10-16:30
김철기 (아미텍코리아)
Introduction of high quality papers produced by using single and combination of surface analytical solutions
10월 8일 (목)
Session 5: Application 1 (Bio & organic)
09:00-09:30
(초청) 강성호 (경희대)
Fluorescent-free super-resolution nanoscopy based on enhanced dark-field illumination of specific localized surface plasmon resonance wavelengths
09:30-10:00
(초청) 위정섭 (한국표준과학연구원)
나노공정기술 기반 바이오이미징/센서 연구
Session 6: Application 2 (Semiconductor & metal)
10:20-10:50
Applications of Nano-Scale SIMS (Secondary Ion Mass Spectroscopy) to Display Devices Technology
10:50-11:20
Band gap profile of Cu(In,Ga)(Se,S)2 thin films via high-resolution reflection electron energy loss spectroscopy
11:20-11:50
(초청) 최민기 (SK 하이닉스)
XPS/REELS를 이용한 다층 유전막 반도체 구조에서의 Band Alignment 분석
11:50-12:10
김홍면 (아미텍코리아)
Technique and instruction to maintain M-SIMS and Atom Probe at optimum condition for performance enhancement